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簡要描述：各向異性測量系統2-MGEM橢圓計是一個重大的突破，光學各向異性測量技術更快、更準確、收集更多的數據。
產品型號：廠商性質：代理商更新時間：2025-05-17訪 問 量：444
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各向異性測量系統2-MGEM橢圓計是一種用于測量米勒矩陣樣本的正常入射偏振反射顯微鏡。它可以用來評估RTISO 核燃料熱解碳層的光學各向異性（OPTAF)。該系統是根據Dr.G.e.Jellison Jr等人在在論文中提出的“使用雙調制器廣義橢圓測微顯微鏡（2-MGME)的垂直入射廣義橢圓儀。該橢圓儀是一個重大的突破，光學各向異性測量技術更快、收集更多的數據。該系統是圍繞兩個Hinds Instruments 系列I 光彈性調制器（PEMs)建立.Hinds Instruments公司是基于PEM偏振調制原理的科研和工業儀器和技術的開發商。PEM被廣泛應用于高靈敏度光學測量設備的研究和開發應用。2-MGEM橢圓儀測量光束偏振狀態的變化，這些光偏振束態是由TRISO燃料 顆粒的各層反射而來的。該系統采用高精度定位平臺，測量點大小為5 μm，在被測量的每個燃料顆粒上收集數千個點。通過自動化軟件計算并報告了各個采樣點的線性衰減、線性延遲和反射強度。然后用這些參數計算每個熱解炭層(IPyC 和OPyC)的OPTAF測定。
各向異性測量系統2-MGEM橢圓計由四個主要部件組成：
掃描模塊
主電機外殼
光源
計算機系統
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