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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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簡(jiǎn)要描述：QptLux SD是一款創(chuàng)新性的光學(xué)表面瑕疵檢測(cè)，具備高重復(fù)性和準(zhǔn)確性，系統(tǒng)根據(jù)設(shè)定的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成詳細(xì)的通過(guò)/失敗報(bào)告，與光學(xué)行業(yè)現(xiàn)在很多的具有很強(qiáng)主觀性的人工檢驗(yàn)以及其他手動(dòng)檢驗(yàn)設(shè)備相比，提供光學(xué)表面質(zhì)量控制性能，可以廣泛用于光學(xué)元件生產(chǎn)、出貨控制、進(jìn)料檢驗(yàn)等過(guò)程。
產(chǎn)品型號(hào)：Optlux SD廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-09-09訪 問(wèn) 量：2009
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
光學(xué)表面瑕疵檢測(cè)特點(diǎn)：
高重復(fù)性的表面缺陷檢測(cè)和表征
對(duì)如下表面質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評(píng)估：
- MIL-PRF-13830B
- ISO 10110-7 可見(jiàn)性標(biāo)準(zhǔn) (含 ISO 14997)
- ISO 10110-7 尺寸標(biāo)準(zhǔn) (含 ISO 14997)
全自動(dòng)手動(dòng)檢測(cè)模式
一個(gè)裝載周期內(nèi)多個(gè)零件的批量檢測(cè)
零件預(yù)掃描和排除光圈設(shè)置
帶有缺陷掃描的合格、失敗報(bào)告
保存并加載物料
光學(xué)表面瑕疵檢測(cè)檢測(cè)優(yōu)勢(shì) :
按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)
提供可追溯的檢測(cè)結(jié)果
排除檢測(cè)主觀性
縮減檢測(cè)時(shí)間
避免過(guò)度檢測(cè)
商業(yè)優(yōu)勢(shì)
建立對(duì)產(chǎn)品表面質(zhì)量的信心
增加產(chǎn)量
實(shí)現(xiàn)并支持正在進(jìn)行的過(guò)程改進(jìn)
將檢測(cè)能量擴(kuò)展到多有表面質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)
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光學(xué)表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)